2010年09月13日
技術情報「微小粒子状物質成分分析用エアサンプラ試料を用いた蛍光X線分析法による多元素分析」
第51回大気環境学会年会にて、「微小粒子状物質成分分析用エアサンプラ試料を用いた蛍光X線分析法による多元素分析」について発表いたしました。また、環境機器展にて、弊社開発の「大気中浮遊粒子状物質成分分析用サンプラ（MCAS-SJ）」を展示し、多くの方にご来場いただきました。
第51回大気環境学会年会 一般講演発表（2010年9月8日）
＜一般講演発表＞
題 目：
「微小粒子状物質成分分析用エアサンプラ試料を用いた蛍光X線分析法による多元素分析」
概 要：
現在、大気試料の一般的な金属分析法であるICP-MS法は、湿式分析の特性上、前処理に時間がかかる上、コンタミネーションの懸念がある。そこで、前処理不要でコンタミネーションの少ない乾式測定法である蛍光X 線分析法を用いることを検討した。
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＜環境機器展＞
展示機器：大気中浮遊粒子状物質成分分析用サンプラ（MCAS-SJ）
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